avigation
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SB2204/3型智能化介質(zhì)損耗測試儀 講解
l 儀器自帶打印機,及時保存測試數(shù)據(jù)。
l 高壓電纜連接至試品,保障安全;儀器未接地報警,安全措施完備
測量內(nèi)容 | tgδ范圍 | 電容量范圍(Cx) | 試品類型 | 基 本 誤 差 |
介質(zhì)損耗 因數(shù) tgδ | 0~0.5 | 50pF~60000pF | 非接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0005) |
接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0010) | |||
10pF~50pF或 60000pF以上 | 非接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0010) | ||
接地 | ±(2%讀數(shù)+0.002) | |||
3pF~10pF | 非接地 與接地 | |||
電容量 | 50pF以上 | ±(1%讀數(shù)+1pF) | ||
50pF以下 | ±(1%讀數(shù)+2pF) |
儀器測量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路被試回路,標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與采樣電路組成,被試回路由被試品和采樣電路組成。由8031單片機運用計算機數(shù)字化實時采集方法,對數(shù)以萬計的采樣數(shù)據(jù)處理后進行矢量運算,分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位關(guān)系,并由之算出試品的電容值(Cx)和介質(zhì)損耗角正切(tgδ),測量結(jié)果可靠?,F(xiàn)場有干擾時,先利用移相、倒相法減小干擾的影響,再將被試回路測得
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的電流Ix′與單獨測得的干擾電流Id矢量相加,得到真正的測量電流Ix,進而得出正確的測量結(jié)果。由圖3可見,可根據(jù)不同的測量對象和測量需要,靈活地采用多種接線方式。如測量非接地試品(正接法)時,“LV"(E)點接地;而測量接地試品(反接法)時,則“HV"點接地。