測試程序

首先確保該設備進行測試，并在工作區(qū)域是安全的，如設備DE-通電和斷開，所有相關的工作許可已經(jīng)批準和所有的鎖/標簽。

接下來，放電電容靜電放電棒或紅外測試儀，具有自動放電功能的設備（特別是高壓設備）。

紅外測試儀上的導線，然后可以連接的設備的導電部分。例如，對于三芯和接地電纜，紅外測試之間施加核心（核心1的Core 2，核心1至3和核心的Core 2核心3），每個核心和大地之間。同樣，對于三相電機，的電路breakrs，隔離開關等的IR測試已經(jīng)可以應用上面的設備終端（與大地連接）。

請注意，施加紅外測試接地時，它是很好的做法，紅外測試儀的正極連接到大地，以避免在地球上的任何極化效應。

一旦連接上，紅外測試儀是一個典型的測試持續(xù)時間為1分鐘通電。1分鐘后的紅外測試測量記錄。

當IR測試完成后，再次放電電容一段時間的試驗持續(xù)時間的4-5倍。

測試結果的解釋

紅外測試的zui低值取決于設備的類型和額定電壓的。他們還按照標準而有所不同。有些標準將定義zui小的紅外測試值，對于一般的電氣裝置。

例如，對于低電壓裝置在IEC的世界，IEC 60364-6 [1]表6A給出了zui小的IR值和還表明試驗電壓，即

標稱電路電壓（VAC）	測試電壓（Vdc）	絕緣電阻（MΩ）
特低電壓	250	0.5
高達500V	500	1.0
500V以上	1,000	1.0

在ANSI / NEC世界，標準ANSI / NETA ATS-2009 [2]提供了大多數(shù)類型的電氣設備的試驗規(guī)程和驗收水平。表100.1提供代表接受紅外測試測量，這應該用在任何其他的指導的情況下（從制造商或其他準則）的值：

NFPA 70B [3]也提供了一些指導，為不同類型的設備絕緣電阻測試。

影響測試結果的因素

主要有兩個因素會影響紅外測試結果：

溫度

   電阻具有逆指數(shù)關系隨溫度變化，即隨著溫度的升高，阻力將減少，反之亦然。由于zui小可接受的紅外測試值是基于一個固定的參考溫度（攝氏20 ^度），所測得的紅外（IR）測試值必須被校正到參考溫度，以使感。

  作為一個經(jīng)驗法則，每10 ^? C增加溫度（反之亦然）的電阻減半。因此，如果測得的紅外測試值是2M Ω在攝氏20 ^度，那么它會在30 ^? C或4M Ω 1M Ω在10 ℃。

   ANSI / NETA ATS-2009表100.14提供的修正系數(shù)，紅外測試測量溫度以外的20 ^? C或攝氏40 ^度，這是兆歐表自由書“小洞不補，校正因子的基礎上反過來.. “。[4]。

濕度

水分的存在（或缺乏）的水分，也可以影響到紅外測試測量，水分含量越高，在空氣中，較低的紅外測試讀數(shù)。如果可能的話，不應該進行IR測試在很潮濕的環(huán)境中的露點以下。盡管目前還沒有標準的校正因子或指導潮濕的條件下，這是很好的做法，使他們能夠在未來的測試中用于基線比較，記錄每個IR測試的相對濕度。例如，過去的數(shù)據(jù)上的紅外干燥和潮濕天的測試值，會給你的基礎，評估未來的測試值。